CARRIER CONDUCTION AND TRAPPING IN METAL-NITRIDE-OXIDE-SEMICONDUCTOR STRUCTURES

被引:53
作者
SUZUKI, E
HAYASHI, Y
机构
关键词
D O I
10.1063/1.330442
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页数:6
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