施瓦茨光学系统波像差测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410455642.0
申请日
2014-09-09
公开(公告)号
CN104236855A
公开(公告)日
2014-12-24
发明(设计)人
戴凤钊 王向朝 蔡燕民
申请人
申请人地址
201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
上海新天专利代理有限公司 31213
代理人
张泽纯;张宁展
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种光学系统波像差测量装置与测量方法 [P]. 
卢增雄 ;
齐月静 ;
苏佳妮 ;
杨光华 ;
周翊 ;
王宇 .
中国专利 :CN104101487A ,2014-10-15
[2]
一种光学系统波像差测量装置 [P]. 
卢增雄 ;
齐月静 ;
苏佳妮 ;
杨光华 ;
周翊 ;
王宇 .
中国专利 :CN204008073U ,2014-12-10
[3]
光学系统波像差检测装置 [P]. 
金春水 ;
王丽萍 ;
张宇 .
中国专利 :CN102289152B ,2011-12-21
[4]
数字相移横向剪切干涉仪及光学系统波像差测量方法 [P]. 
戴凤钊 ;
王向朝 ;
唐锋 .
中国专利 :CN104807548A ,2015-07-29
[5]
成像光学系统像差的现场测量方法 [P]. 
王帆 ;
王向朝 .
中国专利 :CN1570585A ,2005-01-26
[6]
数字相移点衍射干涉仪及光学系统波像差测量方法 [P]. 
戴凤钊 ;
王向朝 ;
唐锋 .
中国专利 :CN105092056A ,2015-11-25
[7]
点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法 [P]. 
唐锋 ;
王向朝 ;
冯鹏 ;
郭福东 ;
卢云君 .
中国专利 :CN105466668A ,2016-04-06
[8]
点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法 [P]. 
王向朝 ;
唐锋 ;
张国先 ;
徐世福 .
中国专利 :CN105424325A ,2016-03-23
[9]
光刻机成像光学系统像差现场测量方法 [P]. 
王帆 ;
马明英 ;
王向朝 .
中国专利 :CN100474115C ,2006-11-15
[10]
一种光学系统波像差检测装置 [P]. 
吕保斌 ;
邢延文 ;
林妩媚 ;
刘志祥 .
中国专利 :CN104181779B ,2014-12-03