晶片检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811608811.4

申请日：

2014-10-28

公开(公告)号：

CN110058138A

公开(公告)日：

2019-07-26

发明(设计)人：

萩原顺一小松茂和古屋邦浩保坂忠良村松直树

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

龙淳;邸万杰

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-07-30	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 31/26 登记生效日:20190711 变更事项:申请人变更前权利人:东京毅力科创株式会社变更后权利人:东京毅力科创株式会社变更事项:地址变更前权利人:日本东京都变更后权利人:日本东京都变更事项:申请人变更前权利人:日邦精密株式会社
2019-07-26	公开	公开
2019-08-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20141028

共 50 条

[1]

晶片检查装置和晶片检查方法 [P].

土居昭 ;

佐佐木实 ;

长谷川正树 ;

小川博纪 ;

尾方智彦 ;

冈田祐子 .

中国专利 :CN112119297A ,2020-12-22

[2]

晶片检查方法和晶片检查装置 [P].

伊藤优作 ;

矢野紘英 ;

谷口智之 .

中国专利 :CN105489523A ,2016-04-13

[3]

晶片检查方法和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN108140590B ,2018-06-08

[4]

晶片检查装置和晶片检查方法 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN108140591B ,2018-06-08

[5]

晶片检查装置和晶片检查方法 [P].

木村展之 .

中国专利 :CN113739716A ,2021-12-03

[6]

晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN103308839A ,2013-09-18

[7]

晶片检查装置 [P].

越智达也 ;

小山恭史 ;

神田和胜 .

日本专利 :CN118369752A ,2024-07-19

[8]

晶片检查装置 [P].

吉田真司 ;

桥本浩二 ;

野村安国 .

中国专利 :CN112213328A ,2021-01-12

[9]

晶片检查装置 [P].

吉田真司 ;

桥本浩二 ;

野村安国 .

日本专利 :CN112213328B ,2025-10-17

[10]

晶片检查装置 [P].

陆继波 .

中国专利 :CN215449030U ,2022-01-07

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