形成半导体器件的图案的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210383423.7
申请日
2012-10-11
公开(公告)号
CN103048876A
公开(公告)日
2013-04-17
发明(设计)人
朴贞珠 金京美 金珉廷 李东峻 金富得
申请人
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
G03F156
IPC分类号
G03F720 H01L21033
代理机构
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
陈源;张帆
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
形成半导体器件的图案的方法 [P]. 
玄灿顺 .
中国专利 :CN102315118A ,2012-01-11
[2]
形成半导体器件的图案的方法 [P]. 
许仲君 .
中国专利 :CN101546694B ,2009-09-30
[3]
半导体器件图案的形成方法 [P]. 
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郑宇煐 .
中国专利 :CN101154583A ,2008-04-02
[4]
形成半导体器件的微小图案的方法 [P]. 
金钟勋 .
中国专利 :CN1892993A ,2007-01-10
[5]
形成半导体器件的精细图案的方法 [P]. 
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吴怜默 ;
南瑞祐 ;
全祐撤 ;
李周范 ;
李命柱 .
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[6]
形成半导体器件图案的方法 [P]. 
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沈贵潢 .
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[7]
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郑宇荣 .
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半导体器件及形成半导体器件的图案的方法 [P]. 
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[9]
形成半导体器件的图案的方法 [P]. 
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[10]
形成半导体器件的图案的方法 [P]. 
金瑞玟 ;
林昌文 .
中国专利 :CN100595884C ,2008-11-19