一种基于磁光效应的成像椭偏仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010033720.X

申请日：

2010-01-12

公开(公告)号：

CN101852591A

公开(公告)日：

2010-10-06

发明(设计)人：

吴学健张继涛李岩

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华大学100084信箱82分箱

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

G01N1300 G01N2101 G01N2141

代理机构：

北京金恒联合知识产权代理事务所 11324

代理人：

李强

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-11-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101017282113 IPC(主分类):G01B 11/06 专利申请号:201010033720X 申请日:20100112
2012-04-18	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101329744944 IPC(主分类):G01B 11/06 专利申请号:201010033720X 公开日:20101006
2010-10-06	公开	公开

共 50 条

[1]

一种半导体检测用基于磁光效应的成像椭偏仪 [P].

黎君玲 ;

张弓 .

中国专利 :CN213209897U ,2021-05-14

[2]

一种椭偏仪以及基于该椭偏仪的检测方法 [P].

修鹏 ;

徐文斌 ;

陈伟力 ;

郑崇 ;

李军伟 .

中国专利 :CN109612942B ,2019-04-12

[3]

成像椭偏仪的系统参数校准方法 [P].

曾爱军 ;

胡仕玉 ;

袁乔 ;

顾帅妍 ;

谷利元 ;

黄惠杰 ;

贺洪波 .

中国专利 :CN104535500A ,2015-04-22

[4]

一种新型磁光效应综合实验仪 [P].

张强 ;

郜超军 .

中国专利 :CN211927678U ,2020-11-13

[5]

一种基于磁光效应的磁性颗粒成像方法 [P].

刘文中 ;

周逸铭 ;

崔鑫超 ;

朱旖雯 ;

李兰 ;

刘春萍 ;

逯翀 .

中国专利 :CN115219433B ,2024-07-02

[6]

一种提高椭偏仪测量精度的方法 [P].

郑玉祥 ;

毛鹏辉 ;

陈良尧 ;

吴康宁 ;

张冬旭 ;

张荣君 ;

杨月梅 .

中国专利 :CN103163078B ,2013-06-19

[7]

一种椭偏仪装置和基于该装置的检测方法 [P].

修鹏 ;

郑崇 ;

吴志宏 ;

徐文斌 ;

李军伟 .

中国专利 :CN109540803B ,2019-03-29

[8]

基于液晶调相的垂直物镜式穆勒矩阵成像椭偏仪 [P].

陈修国 ;

陈军 ;

陈超 ;

刘世元 .

中国专利 :CN106595521A ,2017-04-26

[9]

一种基于Faraday效应的光谱椭偏仪及测量方法 [P].

陈新元 .

中国专利 :CN112683180B ,2021-04-20

[10]

一种激光椭偏仪 [P].

魏文文 ;

孙晨财 ;

陈呈 ;

高荣刚 ;

勾宪芳 ;

王鹏 ;

姜利凯 .

中国专利 :CN202119404U ,2012-01-18

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