一种IC芯片测试用自动装夹机构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202023011489.2
申请日
2020-12-15
公开(公告)号
CN213796379U
公开(公告)日
2021-07-27
发明(设计)人
郭寂波
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区粤兴三道9号华中科技大学深圳产学研基地大楼B203
IPC主分类号
B25H110
IPC分类号
B25B1100
代理机构
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙) 44527
代理人
曾令安
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
IC芯片测试用自动装夹装置 [P]. 
陈俊峰 .
中国专利 :CN211238205U ,2020-08-11
[2]
IC芯片测试用自动装夹装置 [P]. 
张英乾 ;
张博 .
中国专利 :CN209533175U ,2019-10-25
[3]
一种IC芯片测试用自动装夹装置 [P]. 
胡斌 .
中国专利 :CN217992537U ,2022-12-09
[4]
IC芯片测试用自动装夹装置 [P]. 
张英乾 ;
张博 .
中国专利 :CN109531473A ,2019-03-29
[5]
IC芯片测试用自动装夹装置 [P]. 
张英乾 ;
张博 .
中国专利 :CN109531473B ,2024-07-30
[6]
一种芯片测试用的芯片装夹装置 [P]. 
黄哲尔 ;
沈义明 ;
韦宗专 .
中国专利 :CN215575516U ,2022-01-18
[7]
一种用于IC芯片测试的装夹装置 [P]. 
李维繁星 ;
张春霞 .
中国专利 :CN220552889U ,2024-03-01
[8]
一种用于IC芯片测试的装夹装置 [P]. 
陈宗廷 ;
戴洋洋 ;
林国智 .
中国专利 :CN217020062U ,2022-07-22
[9]
一种用于IC芯片测试的装夹装置 [P]. 
黄辉 .
中国专利 :CN212159873U ,2020-12-15
[10]
一种用于IC芯片测试的装夹装置 [P]. 
王玉伟 ;
何静 ;
王一凡 ;
何贵银 .
中国专利 :CN217345225U ,2022-09-02