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一种刻蚀终点检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202122032866.9
申请日
:
2021-08-26
公开(公告)号
:
CN215895164U
公开(公告)日
:
2022-02-22
发明(设计)人
:
雷胜
申请人
:
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市锡山区东亭街道春合南苑209号-13
IPC主分类号
:
G02F113
IPC分类号
:
代理机构
:
东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙) 44777
代理人
:
魏昕
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-22
授权
授权
共 50 条
[1]
一种刻蚀终点检测装置
[P].
张家祥
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张家祥
;
姜晓辉
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姜晓辉
;
郭建
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郭建
.
中国专利
:CN202712131U
,2013-01-30
[2]
终点检测装置及刻蚀设备
[P].
张涛
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张涛
;
张彬彬
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张彬彬
;
苏财钰
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苏财钰
;
陈洋
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陈洋
;
王鹏鹏
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王鹏鹏
.
中国专利
:CN217983273U
,2022-12-06
[3]
一种刻蚀终点检测装置
[P].
郭子仲
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机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
郭子仲
;
李军竹
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机构:
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司
李军竹
.
中国专利
:CN222168333U
,2024-12-13
[4]
终点检测装置及刻蚀设备
[P].
张涛
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张涛
;
张彬彬
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张彬彬
;
苏财钰
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苏财钰
;
陈洋
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陈洋
;
王鹏鹏
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王鹏鹏
.
中国专利
:CN217983274U
,2022-12-06
[5]
刻蚀终点检测装置及方法
[P].
陈昊
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
陈昊
;
金钟洙
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
金钟洙
;
车翰宣
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
车翰宣
.
中国专利
:CN118016545A
,2024-05-10
[6]
刻蚀终点检测装置及方法
[P].
张震
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
张震
;
金钟洙
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
金钟洙
;
车翰宣
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机构:
上海传芯半导体有限公司
上海传芯半导体有限公司
车翰宣
.
中国专利
:CN118016546A
,2024-05-10
[7]
终点检测装置和终点检测系统
[P].
刘昕
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刘昕
;
董伯辉
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董伯辉
;
孙启磊
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孙启磊
;
王玉
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王玉
;
王立
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王立
.
中国专利
:CN211238175U
,2020-08-11
[8]
终点检测方法及终点检测装置
[P].
山下武志
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山下武志
;
山口峰生
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山口峰生
.
中国专利
:CN1306568C
,2005-02-02
[9]
终点检测装置及终点检测方法
[P].
王坚
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王坚
;
贾照伟
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贾照伟
;
王晖
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王晖
.
中国专利
:CN103594390A
,2014-02-19
[10]
工艺终点检测装置
[P].
储佳
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储佳
.
中国专利
:CN203456423U
,2014-02-26
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