集成电路的测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210576911.X

申请日：

2012-12-26

公开(公告)号：

CN103064006B

公开(公告)日：

2013-04-24

发明(设计)人：

谢朝辉赵明琦王德坤刘海南黑勇周玉梅

申请人：

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

王宝筠

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-04-24	公开	公开
2016-09-14	授权	授权
2013-05-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101461530484 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:201210576911X 申请日:20121226

共 50 条

[31]

集成电路芯片的测试装置 [P].

李君平 ;

陈世宗 .

中国专利 :CN112462226B ,2024-06-21

[32]

集成电路芯片的测试装置 [P].

李君平 ;

陈世宗 .

中国专利 :CN112462226A ,2021-03-09

[33]

集成电路IC测试装置 [P].

清川敏之 .

中国专利 :CN1203367A ,1998-12-30

[34]

新型集成电路测试装置 [P].

林峰 ;

姜龙 .

中国专利 :CN221199857U ,2024-06-21

[35]

集成电路strip测试装置 [P].

沈飞飞 ;

张志伟 ;

刘小飞 ;

苏康宏 ;

韩学森 ;

陈乃溪 .

中国专利 :CN223092030U ,2025-07-11

[36]

集成电路老化测试装置 [P].

刘菁伟 ;

叶媛 ;

边磊 ;

刘伟义 ;

佟澎薪 .

中国专利 :CN222167162U ,2024-12-13

[37]

集成电路封装测试装置 [P].

李志军 ;

朱永斌 ;

邱嘉龙 ;

何祖辉 ;

邱秀华 .

中国专利 :CN212542356U ,2021-02-12

[38]

集成电路管脚测试装置 [P].

肖毅 ;

杨嘉毅 ;

高进 .

中国专利 :CN105510763B ,2016-04-20

[39]

集成电路功能测试装置 [P].

徐子昆 .

中国专利 :CN204903574U ,2015-12-23

[40]

通用集成电路测试装置 [P].

段超毅 ;

陈家锋 .

中国专利 :CN204439790U ,2015-07-01

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