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集成电路的测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201210576911.X
申请日：
2012-12-26
公开(公告)号：
CN103064006B
公开(公告)日：
2013-04-24
发明(设计)人：
谢朝辉
赵明琦
王德坤
刘海南
黑勇
周玉梅
申请人：
申请人地址：
100029 北京市朝阳区北土城西路3号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
王宝筠
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2013-04-24 | 公开 | 公开 |
| 2016-09-14 | 授权 | 授权 |
| 2013-05-29 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101461530484 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:201210576911X 申请日:20121226 |