集成电路的测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210576911.X

申请日：

2012-12-26

公开(公告)号：

CN103064006B

公开(公告)日：

2013-04-24

发明(设计)人：

谢朝辉赵明琦王德坤刘海南黑勇周玉梅

申请人：

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

王宝筠

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-04-24	公开	公开
2016-09-14	授权	授权
2013-05-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101461530484 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:201210576911X 申请日:20121226

共 50 条

[41]

集成电路芯片测试装置 [P].

赖榕弟 .

中国专利 :CN212905288U ,2021-04-06

[42]

集成电路辅助测试装置 [P].

赵发展 .

中国专利 :CN102466774A ,2012-05-23

[43]

集成电路精密测试装置 [P].

周迪 .

中国专利 :CN115542118A ,2022-12-30

[44]

用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置 [P].

李远 ;

盖晓峰 .

中国专利 :CN222996768U ,2025-06-17

[45]

集成电路输出端测试装置及集成电路 [P].

高国重 ;

齐子初 .

中国专利 :CN110118922B ,2019-08-13

[46]

集成电路输入端测试装置及集成电路 [P].

高国重 ;

齐子初 .

中国专利 :CN110118921A ,2019-08-13

[47]

集成电路测试方法和采用该测试方法的集成电路测试装置 [P].

桥本好弘 .

中国专利 :CN1244925A ,2000-02-16

[48]

用于测试集成电路封装的测试装置 [P].

邱绍袀 ;

廖文峰 ;

陈颢 ;

陈春兴 .

中国专利 :CN115561616A ,2023-01-03

[49]

集成电路测试装置及测试方法 [P].

陈戈 .

中国专利 :CN111871865A ,2020-11-03

[50]

集成电路测试方法及测试装置 [P].

张郑欣 ;

徐帅 ;

郑义 .

中国专利 :CN103954877A ,2014-07-30

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