集成电路的测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210576911.X

申请日：

2012-12-26

公开(公告)号：

CN103064006B

公开(公告)日：

2013-04-24

发明(设计)人：

谢朝辉赵明琦王德坤刘海南黑勇周玉梅

申请人：

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

王宝筠

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-04-24	公开	公开
2016-09-14	授权	授权
2013-05-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101461530484 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:201210576911X 申请日:20121226

共 50 条

[1]

集成电路测试装置 [P].

郭珊丞 .

中国专利 :CN107942229A ,2018-04-20

[2]

集成电路的测试装置 [P].

鹫尾贤一 ;

长谷川昌志 .

中国专利 :CN101943741A ,2011-01-12

[3]

集成电路测试装置 [P].

商亚锋 .

中国专利 :CN108008155A ,2018-05-08

[4]

集成电路测试装置 [P].

刘甲全 .

中国专利 :CN102466777A ,2012-05-23

[5]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[6]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[7]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

[8]

集成电路测试装置 [P].

刘丰 ;

吕方艳 ;

梁晓梅 ;

刘应明 .

中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26

[9]

集成电路测试装置 [P].

王国华 .

中国专利 :CN202443037U ,2012-09-19

[10]

集成电路测试装置 [P].

邢思波 .

中国专利 :CN113484736B ,2025-09-19

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