化合物半导体制造装置、化合物半导体制造方法以及化合物半导体制造用型架

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200980143008.0
申请日
2009-11-04
公开(公告)号
CN102197460A
公开(公告)日
2011-09-21
发明(设计)人
樱井哲朗
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L21205
IPC分类号
C23C1644
代理机构
北京市中咨律师事务所 11247
代理人
段承恩;杨光军
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
化合物半导体装置、化合物半导体基板以及化合物半导体装置的制造方法 [P]. 
菱木繁臣 ;
川村启介 .
中国专利 :CN112997283A ,2021-06-18
[2]
氮化镓化合物半导体制造方法 [P]. 
宋盈彻 ;
刘文明 .
中国专利 :CN1322017A ,2001-11-14
[3]
化合物半导体基板的制造方法以及化合物半导体基板 [P]. 
生川满久 ;
铃木悠宜 ;
大内澄人 .
中国专利 :CN109964306A ,2019-07-02
[4]
化合物半导体装置及化合物半导体装置的制造方法 [P]. 
伊籐裕规 ;
岩渕昭夫 ;
施欣宏 .
中国专利 :CN102637734A ,2012-08-15
[5]
GaN系化合物半导体的制造方法以及GaN系化合物半导体 [P]. 
星野恭之 ;
村川美奈子 ;
跡边仁志 .
中国专利 :CN104022191A ,2014-09-03
[6]
化合物半导体衬底、化合物半导体衬底的制造方法以及半导体器件 [P]. 
柴田佳彦 ;
宫原真敏 ;
池田孝司 ;
国见仁久 .
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[7]
化合物半导体及化合物半导体单晶的制造方法 [P]. 
野田朗 ;
川平启太 ;
平野立一 .
中国专利 :CN109963967A ,2019-07-02
[8]
化合物半导体装置以及制造该化合物半导体装置的方法 [P]. 
村田道昭 ;
宇佐美浩之 ;
太田恭久 ;
高桥均 .
中国专利 :CN102254936B ,2011-11-23
[9]
半导体制造化学化合物监测过程 [P]. 
P·阿诺 ;
T·范凯斯特伦 ;
M·O·塔斯 ;
G·范德尔斯达 .
:CN118173470A ,2024-06-11
[10]
化合物半导体装置与制造化合物半导体装置的方法 [P]. 
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中国专利 :CN114902424A ,2022-08-12