用于连续横向固化技术的掩膜及用其形成多晶硅层的方法

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专利类型
发明
申请号
CN200510082849.9
申请日
2005-07-08
公开(公告)号
CN1892420A
公开(公告)日
2007-01-10
发明(设计)人
赵志伟
申请人
申请人地址
台湾省新竹市
IPC主分类号
G03F108
IPC分类号
G03F100 G03F700 H01L21027
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司
代理人
任默闻
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
形成多晶硅层的方法 [P]. 
彭佳添 .
中国专利 :CN1585089A ,2005-02-23
[2]
形成多晶硅层及多晶硅薄膜晶体管的方法 [P]. 
翁健森 ;
张志清 .
中国专利 :CN1333447C ,2005-03-09
[3]
多晶硅膜层形貌的形成方法 [P]. 
王伟军 ;
奚鹏程 ;
杨冰 .
中国专利 :CN103943486A ,2014-07-23
[4]
蚀刻多晶硅层以形成多晶硅闸极的方法 [P]. 
吴燕萍 ;
何岳风 .
中国专利 :CN1191613C ,2003-03-26
[5]
多晶硅层的制造方法及用于其的金属混合层形成装置 [P]. 
李炳一 ;
张熙燮 ;
朴暻完 .
中国专利 :CN102770946A ,2012-11-07
[6]
用于连续侧向结晶的掩膜及用此掩膜结晶非晶硅层的方法 [P]. 
孙铭伟 .
中国专利 :CN1909189A ,2007-02-07
[7]
一种用于连续横向结晶技术的掩膜及使用该掩膜的方法 [P]. 
孙铭伟 .
中国专利 :CN1933098A ,2007-03-21
[8]
形成多晶硅锗层的方法 [P]. 
褚国栋 ;
程立伟 .
中国专利 :CN1664990A ,2005-09-07
[9]
多晶硅层的形成方法 [P]. 
许忠义 .
中国专利 :CN103325665B ,2013-09-25
[10]
掩模与应用其形成多晶硅层的方法 [P]. 
孙铭伟 .
中国专利 :CN100570824C ,2008-12-17