用于形成介电膜的组合物及形成介电膜或图案的方法

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专利类型
发明
申请号
CN200410089606.3
申请日
2004-10-28
公开(公告)号
CN100497480C
公开(公告)日
2005-06-22
发明(设计)人
柳利烈 林珍亨 宣钟白
申请人
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
C08L8304
IPC分类号
G03F700
代理机构
北京市柳沈律师事务所
代理人
封新琴;巫肖南
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
形成介电膜的组合物 [P]. 
S·马利克 ;
W·A·赖纳特 ;
B·B·德 .
中国专利 :CN109789644B ,2019-05-21
[2]
形成介电膜的组合物 [P]. 
S·马利克 ;
W·A·赖纳特 ;
O·迪莫夫 ;
R·萨卡穆里 .
中国专利 :CN109790405B ,2019-05-21
[3]
形成介电膜的方法和介电膜 [P]. 
S·源 ;
A·格里尔 ;
S·M·盖茨 ;
D·A·诺伊迈尔 .
中国专利 :CN1782125A ,2006-06-07
[4]
形成介电膜的方法 [P]. 
北野尚武 ;
福地祐介 ;
铃木伸昌 ;
北川英夫 .
中国专利 :CN101944482B ,2011-01-12
[5]
形成介电膜的方法 [P]. 
北川英夫 ;
北野尚武 .
中国专利 :CN101471255A ,2009-07-01
[6]
形成介电膜的方法 [P]. 
福地祐介 ;
北野尚武 .
中国专利 :CN101471254B ,2009-07-01
[7]
形成介电膜的方法 [P]. 
北野尚武 ;
福地祐介 ;
铃木伸昌 ;
北川英夫 .
中国专利 :CN101471256B ,2009-07-01
[8]
衬底上形成介电膜的方法 [P]. 
N·P·哈克 ;
S·莱菲尔茨 ;
M·D·斯勒索 ;
L·K·菲格 .
中国专利 :CN1165973C ,2002-03-27
[9]
用于形成低湿度介电膜的方法 [P]. 
Z·Q·华 ;
L·罗 ;
M·A·埃尔南德斯 ;
Z·曹 ;
K·萨普瑞 ;
A·巴特纳格尔 .
中国专利 :CN103026464A ,2013-04-03
[10]
溅射靶、从该溅射靶形成的介电膜以及用于形成该介电膜的方法 [P]. 
国定照房 ;
荻野悦男 ;
筏井正博 .
中国专利 :CN1807680A ,2006-07-26