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用于对EUV容器和EUV收集器进行靶材料碎片清洁的系统、方法和装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111078800.1
申请日
:
2016-12-13
公开(公告)号
:
CN113791523B
公开(公告)日
:
2024-04-09
发明(设计)人
:
白宗薰
M·C·亚伯拉罕
D·R·埃文斯
J·M·加扎
申请人
:
ASML荷兰有限公司
申请人地址
:
荷兰维德霍温
IPC主分类号
:
G03F7/20
IPC分类号
:
H05G2/00
代理机构
:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
:
吕世磊
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-09
授权
授权
共 50 条
[1]
用于对EUV容器和EUV收集器进行靶材料碎片清洁的系统、方法和装置
[P].
白钟勋
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白钟勋
;
M·C·亚伯拉罕
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M·C·亚伯拉罕
;
D·R·埃文斯
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D·R·埃文斯
;
J·M·加扎
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J·M·加扎
.
中国专利
:CN108472497A
,2018-08-31
[2]
用于对EUV容器和EUV收集器进行靶材料碎片清洁的系统、方法和装置
[P].
白宗薰
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白宗薰
;
M·C·亚伯拉罕
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M·C·亚伯拉罕
;
D·R·埃文斯
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D·R·埃文斯
;
J·M·加扎
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J·M·加扎
.
中国专利
:CN113791523A
,2021-12-14
[3]
用于控制将EUV靶材料引入EUV室的装置和方法
[P].
D·U·H·特雷斯
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D·U·H·特雷斯
;
S·R·E·穆什
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S·R·E·穆什
;
B·A·萨姆斯
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B·A·萨姆斯
;
A·梅迪纳·奥斯加拉
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A·梅迪纳·奥斯加拉
;
T·W·德赖森
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T·W·德赖森
.
中国专利
:CN112772000A
,2021-05-07
[4]
靶材料、高亮度EUV源和产生EUV辐射的方法
[P].
德米特里·伊戈列维奇·阿斯塔霍夫
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
德米特里·伊戈列维奇·阿斯塔霍夫
;
萨米尔·埃尔维
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
萨米尔·埃尔维
;
丹尼斯·亚历山大罗维奇·格鲁什科夫
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
丹尼斯·亚历山大罗维奇·格鲁什科夫
;
弗拉基米尔·维塔列维奇·伊万诺夫
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
弗拉基米尔·维塔列维奇·伊万诺夫
;
奥列格·鲍里索维奇·赫里斯托福罗夫
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
奥列格·鲍里索维奇·赫里斯托福罗夫
;
康斯坦丁·尼古拉耶维奇·科谢列夫
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
康斯坦丁·尼古拉耶维奇·科谢列夫
;
米哈伊尔·谢尔盖耶维奇·克里沃科里托夫
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
米哈伊尔·谢尔盖耶维奇·克里沃科里托夫
;
弗拉基米尔·米哈伊洛维奇·克里夫松
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ISTEQ私人有限公司
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弗拉基米尔·米哈伊洛维奇·克里夫松
;
亚历山大·安德烈耶维奇·拉什
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ISTEQ私人有限公司
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亚历山大·安德烈耶维奇·拉什
;
维亚切斯拉夫·瓦列里耶维奇·梅德韦杰夫
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
维亚切斯拉夫·瓦列里耶维奇·梅德韦杰夫
;
亚历山大·尤里耶维奇·维诺霍多夫
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ISTEQ私人有限公司
ISTEQ私人有限公司
亚历山大·尤里耶维奇·维诺霍多夫
.
:CN118435705A
,2024-08-02
[5]
用于EUV辐射源的靶材料储存和递送系统
[P].
R·S·卡帕迪亚
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ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
R·S·卡帕迪亚
;
T·M·伍德伯恩
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ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
T·M·伍德伯恩
.
:CN120731135A
,2025-09-30
[6]
用于收集靶材料的仪器、系统和方法
[P].
L·尤伦
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L·尤伦
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D·E·坎普顿
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D·E·坎普顿
;
J·J·诺德伯格
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J·J·诺德伯格
;
S·卡雷
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S·卡雷
;
J·E·伦特
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J·E·伦特
.
中国专利
:CN111139175A
,2020-05-12
[7]
用于收集靶材料的仪器、系统和方法
[P].
L·尤伦
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瑞尔赛特股份有限公司
瑞尔赛特股份有限公司
L·尤伦
;
D·E·坎普顿
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瑞尔赛特股份有限公司
瑞尔赛特股份有限公司
D·E·坎普顿
;
J·J·诺德伯格
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瑞尔赛特股份有限公司
瑞尔赛特股份有限公司
J·J·诺德伯格
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S·卡雷
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瑞尔赛特股份有限公司
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S·卡雷
;
J·E·伦特
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机构:
瑞尔赛特股份有限公司
瑞尔赛特股份有限公司
J·E·伦特
.
美国专利
:CN111139175B
,2024-08-13
[8]
用于收集靶材料的仪器、系统和方法
[P].
L·尤伦
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L·尤伦
;
D·E·坎普顿
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D·E·坎普顿
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J·J·诺德伯格
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J·J·诺德伯格
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S·卡雷
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S·卡雷
;
J·E·伦特
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J·E·伦特
.
中国专利
:CN106062170B
,2016-10-26
[9]
用于净化用于EUV光源的靶材料的方法和设备
[P].
P·M·鲍姆加特
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P·M·鲍姆加特
;
C·拉加古鲁
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C·拉加古鲁
;
B·A·萨姆斯
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B·A·萨姆斯
;
A·B·里丁格
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A·B·里丁格
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J·K·卡多库斯
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J·K·卡多库斯
;
G·O·瓦申科
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G·O·瓦申科
.
中国专利
:CN108698850B
,2018-10-23
[10]
控制EUV光源中的碎片的装置和方法
[P].
C·W·J·贝伦德森
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
C·W·J·贝伦德森
;
I·V·福门科夫
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ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
I·V·福门科夫
;
A·I·厄肖夫
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ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·I·厄肖夫
;
J·T·斯特瓦特四世
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ASML荷兰有限公司
J·T·斯特瓦特四世
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:CN117524536A
,2024-02-06
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