一种具备抗辐射的SiC MOSFET结构及其制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411944221.4
申请日
2024-12-27
公开(公告)号
CN119384023A
公开(公告)日
2025-01-28
发明(设计)人
许一力 李鑫 刘倩倩
申请人
杭州谱析光晶半导体科技有限公司
申请人地址
310000 浙江省杭州市萧山区瓜沥镇航钱路168号3幢4层405(自主分割)
IPC主分类号
H10D62/10
IPC分类号
H10D30/63 H10D30/01 H01L23/552
代理机构
深圳市励知致远知识产权代理有限公司 44795
代理人
林泓泽
法律状态
公开
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
一种高压SiC MOSFET栅下抗辐射加固结构 [P]. 
张旭芳 ;
李明坤 ;
焦硕沛 ;
张雪恰 ;
张静 .
中国专利 :CN119451178A ,2025-02-14
[2]
一种双槽小尺寸SiC MOSFET器件结构及其制备方法 [P]. 
张旭芳 ;
鲁世豪 ;
王士超 ;
李明坤 ;
焦硕沛 ;
张静 .
中国专利 :CN119855193A ,2025-04-18
[3]
一种具有浅P+结构的SiC MOSFET器件及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
刘倩倩 .
中国专利 :CN119866038B ,2025-07-01
[4]
一种具有浅P+结构的SiC MOSFET器件及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
刘倩倩 .
中国专利 :CN119866038A ,2025-04-22
[5]
一种具有二阶氧化层的SiC MOSFET结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
杨琦 .
中国专利 :CN120813014B ,2025-12-23
[6]
一种具有二阶氧化层的SiC MOSFET结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
杨琦 .
中国专利 :CN120813014A ,2025-10-17
[7]
一种低导通电阻的SiC MOSFET终端结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
杨琦 .
中国专利 :CN120640743A ,2025-09-12
[8]
一种低导通电阻的SiC MOSFET终端结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
杨琦 .
中国专利 :CN120640743B ,2025-11-14
[9]
一种高密度的SiC MOSFET结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
刘倩倩 .
中国专利 :CN119907274A ,2025-04-29
[10]
一种高密度的SiC MOSFET结构及其制备工艺 [P]. 
许一力 ;
李鑫 ;
刘倩倩 .
中国专利 :CN119907274B ,2025-07-18