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半导体用超高纯石墨绳检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202422618978.6
申请日
:
2024-10-29
公开(公告)号
:
CN223426575U
公开(公告)日
:
2025-10-10
发明(设计)人
:
杨振远
白俊鹏
戈珍军
丁光明
马长庆
申请人
:
北京晶龙特碳科技有限公司
申请人地址
:
101100 北京市通州区张家湾镇土桥村(北京新建房地产开发有限公司)7幢300号
IPC主分类号
:
G01N25/22
IPC分类号
:
代理机构
:
北京东方芊悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11591
代理人
:
陈益奇
法律状态
:
授权
国省代码
:
河北省 衡水市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-10-10
授权
授权
共 50 条
[21]
光半导体用片和光半导体装置
[P].
小名春华
论文数:
0
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0
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小名春华
;
松田广和
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松田广和
;
片山博之
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0
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片山博之
.
中国专利
:CN203923079U
,2014-11-05
[22]
一种制备半导体用超纯氨的装置
[P].
江罗
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江罗
;
杨涛
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杨涛
;
杜大艳
论文数:
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杜大艳
;
方强
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方强
;
曹小林
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曹小林
;
焦文艺
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焦文艺
.
中国专利
:CN216946234U
,2022-07-12
[23]
用于半导体用石英环的台阶临时快速检测装置
[P].
单佩
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单佩
.
中国专利
:CN212030422U
,2020-11-27
[24]
一种半导体用高纯铜电解精炼装置
[P].
丁重山
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机构:
扬州鼎诺电子有限公司
扬州鼎诺电子有限公司
丁重山
;
丁晓娈
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机构:
扬州鼎诺电子有限公司
扬州鼎诺电子有限公司
丁晓娈
;
丁子来
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机构:
扬州鼎诺电子有限公司
扬州鼎诺电子有限公司
丁子来
;
丁保锋
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机构:
扬州鼎诺电子有限公司
扬州鼎诺电子有限公司
丁保锋
;
程晓辉
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机构:
扬州鼎诺电子有限公司
扬州鼎诺电子有限公司
程晓辉
.
中国专利
:CN221440899U
,2024-07-30
[25]
半导体检测装置及半导体工艺装置
[P].
李海鹏
论文数:
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李海鹏
.
中国专利
:CN210006695U
,2020-01-31
[26]
一种半导体用检测台
[P].
周国成
论文数:
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机构:
无锡矽鹏半导体检测有限公司
无锡矽鹏半导体检测有限公司
周国成
.
中国专利
:CN223377356U
,2025-09-23
[27]
半导体芯片检测装置
[P].
王志强
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王志强
;
王志辉
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王志辉
.
中国专利
:CN213210356U
,2021-05-14
[28]
半导体检测装置
[P].
余宏
论文数:
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余宏
.
中国专利
:CN206892268U
,2018-01-16
[29]
一种高端半导体用石墨材料表面研磨装置
[P].
杨晓鹏
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机构:
平顶山东方碳素股份有限公司
平顶山东方碳素股份有限公司
杨晓鹏
;
樊少璞
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机构:
平顶山东方碳素股份有限公司
平顶山东方碳素股份有限公司
樊少璞
;
张梦楠
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机构:
平顶山东方碳素股份有限公司
平顶山东方碳素股份有限公司
张梦楠
;
王少普
论文数:
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机构:
平顶山东方碳素股份有限公司
平顶山东方碳素股份有限公司
王少普
.
中国专利
:CN223519337U
,2025-11-07
[30]
一种半导体用检测装置
[P].
黄静怡
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄静怡
.
中国专利
:CN112098360A
,2020-12-18
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