学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
刻蚀机终点检测系统用光线采集机构
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202422644876.1
申请日
:
2024-10-31
公开(公告)号
:
CN223513380U
公开(公告)日
:
2025-11-04
发明(设计)人
:
唐建成
申请人
:
无锡芯汉电子科技有限公司
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市滨湖区隐秀路811-808
IPC主分类号
:
G02B7/00
IPC分类号
:
H01L21/66
G01B11/22
G01B11/30
代理机构
:
无锡知之火专利代理事务所(特殊普通合伙) 32318
代理人
:
袁粉兰
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 无锡市
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-04
授权
授权
共 50 条
[1]
刻蚀机终点检测系统用滤光片组件
[P].
唐建成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡芯汉电子科技有限公司
无锡芯汉电子科技有限公司
唐建成
.
中国专利
:CN223205706U
,2025-08-08
[2]
刻蚀终点检测方法
[P].
罗永坚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗永坚
;
张颂周
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张颂周
;
任昱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
任昱
;
朱骏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱骏
;
吕煜坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吕煜坤
;
张旭升
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张旭升
.
中国专利
:CN104392946A
,2015-03-04
[3]
刻蚀终点检测系统及方法
[P].
杨剑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
杨剑
;
杨俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
杨俊
;
梁晓明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
梁晓明
;
冯锐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
冯锐
;
朱普磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东芯粤能半导体有限公司
广东芯粤能半导体有限公司
朱普磊
.
中国专利
:CN118352215A
,2024-07-16
[4]
一种便于安装且检测范围广的刻蚀机刻蚀终点检测系统
[P].
李鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李鑫
;
陈荣华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈荣华
.
中国专利
:CN215374016U
,2021-12-31
[5]
一种等离子体刻蚀终点检测系统及刻蚀终点检测方法
[P].
方铭国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳泰研半导体装备有限公司
深圳泰研半导体装备有限公司
方铭国
.
中国专利
:CN121215542A
,2025-12-26
[6]
刻蚀机终点检测系统用自适应光纤传输器
[P].
唐建成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡芯汉电子科技有限公司
无锡芯汉电子科技有限公司
唐建成
.
中国专利
:CN223426890U
,2025-10-10
[7]
一种刻蚀终点检测系统
[P].
睢智峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
睢智峰
.
中国专利
:CN105336638B
,2019-03-08
[8]
终点检测装置和终点检测系统
[P].
刘昕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘昕
;
董伯辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
董伯辉
;
孙启磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙启磊
;
王玉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王玉
;
王立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王立
.
中国专利
:CN211238175U
,2020-08-11
[9]
一种等离子体刻蚀终点检测系统及刻蚀终点检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
牛夷
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
姜晶
;
陈浩林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学
电子科技大学
陈浩林
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李璇
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李志强
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王超
.
中国专利
:CN117451636A
,2024-01-26
[10]
侧墙刻蚀终点检测优化方法
[P].
刘周
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
刘周
.
中国专利
:CN119089172A
,2024-12-06
←
1
2
3
4
5
→