LINE RESOLUTION IN THE SUB-10-NANOMETER RANGE IN SAM

被引:18
作者
CAZAUX, J [1 ]
CHAZELAS, J [1 ]
CHARASSE, MN [1 ]
HIRTZ, JP [1 ]
机构
[1] THOMSON CSF,CENT RECH LAB,F-91401 ORSAY,FRANCE
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(88)90403-2
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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