一种低位错密度氮化物的外延层生长方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010147206.2
申请日
2020-03-05
公开(公告)号
CN111312585A
公开(公告)日
2020-06-19
发明(设计)人
程万希 梁辉南 姜仁波 李强 王荣华 高珺
申请人
申请人地址
116000 辽宁省大连市高新园区七贤岭信达街57号工业设计产业园7号楼
IPC主分类号
H01L21205
IPC分类号
H01L21335
代理机构
大连东方专利代理有限责任公司 21212
代理人
周莹;李馨
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种氮化物的外延生长方法 [P]. 
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[2]
氮化物半导体外延层的生长方法 [P]. 
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[3]
一种氮化物半导体材料的外延生长方法 [P]. 
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张志伟 ;
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缪国庆 ;
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[4]
氮化物LED外延结构的生长方法 [P]. 
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李鸿渐 ;
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李盼盼 ;
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李璟 ;
伊晓燕 ;
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王国宏 ;
李晋闽 .
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[5]
一种采用AlON缓冲层的氮化物的外延生长技术 [P]. 
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张峰 ;
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[6]
硅基氮化物单晶薄膜的外延生长方法 [P]. 
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[7]
氮化物生长方法 [P]. 
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梁萌 ;
伊晓燕 ;
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[8]
Ⅲ族氮化物单晶生长方法 [P]. 
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中幡英章 ;
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[9]
氮化物半导体的生长方法 [P]. 
清久裕之 ;
中村修二 ;
小崎德也 ;
岩佐成人 ;
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[10]
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