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一种封装芯片测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120495152.9
申请日
:
2021-03-08
公开(公告)号
:
CN214718557U
公开(公告)日
:
2021-11-16
发明(设计)人
:
吕波
申请人
:
申请人地址
:
519000 广东省珠海市斗门区新青科技工业园华英路2号(1号厂房)一楼
IPC主分类号
:
B07C5342
IPC分类号
:
B07C536
B07C502
代理机构
:
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
:
卢泽明
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-16
授权
授权
共 50 条
[41]
一种芯片测试设备
[P].
孙成扬
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙成扬
;
文根发
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0
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
文根发
.
中国专利
:CN223205615U
,2025-08-08
[42]
一种芯片测试设备
[P].
张学伟
论文数:
0
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0
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0
张学伟
.
中国专利
:CN218350320U
,2023-01-20
[43]
一种芯片测试设备
[P].
黄太洲
论文数:
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黄太洲
;
马敏超
论文数:
0
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马敏超
;
陈晨
论文数:
0
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0
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陈晨
.
中国专利
:CN215894842U
,2022-02-22
[44]
一种芯片测试设备
[P].
朱家俊
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机构:
上海旭昇高科技有限公司
上海旭昇高科技有限公司
朱家俊
.
中国专利
:CN223650687U
,2025-12-09
[45]
一种芯片测试设备
[P].
谭少鹏
论文数:
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0
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机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
谭少鹏
.
中国专利
:CN222813318U
,2025-04-29
[46]
一种封装芯片老化测试用插座
[P].
严祥平
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严祥平
.
中国专利
:CN213715262U
,2021-07-16
[47]
一种芯片封装测试自动分类装置
[P].
魏罡
论文数:
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魏罡
.
中国专利
:CN215089032U
,2021-12-10
[48]
一种芯片测试设备的清洁装置及芯片测试设备
[P].
陈建丛
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
陈建丛
;
赵山
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
赵山
;
吴永红
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴永红
.
中国专利
:CN223543634U
,2025-11-14
[49]
封装芯片测试装置
[P].
王鹏
论文数:
0
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0
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机构:
睿创光子(无锡)技术有限公司
睿创光子(无锡)技术有限公司
王鹏
.
中国专利
:CN223650140U
,2025-12-09
[50]
一种芯片封装测试结构
[P].
牛刚
论文数:
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牛刚
;
于建姝
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于建姝
;
赵晓东
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赵晓东
;
段晓博
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段晓博
;
刘竞文
论文数:
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刘竞文
.
中国专利
:CN203377200U
,2014-01-01
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