CURRENT AND C-V INSTABILITIES IN SIO2 AT HIGH FIELDS

被引:12
作者
SOLOMON, PM [1 ]
AITKEN, JM [1 ]
机构
[1] IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
关键词
D O I
10.1063/1.89611
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:215 / 217
页数:3
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