半导体衬底、半导体封装结构和制造半导体装置的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811561793.9
申请日
2018-12-20
公开(公告)号
CN110349935A
公开(公告)日
2019-10-18
发明(设计)人
呂文隆
申请人
申请人地址
中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号邮编81170
IPC主分类号
H01L23498
IPC分类号
H01L21027 H01L2148
代理机构
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人
蕭輔寬
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
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